2012月2月21日
株式会社マグネスケールはこのたび、pm(ピコメートル)分解能の非接触変位計を開発しました。
今回開発した非接触変位計は、弊社の超高精度スケールであるレーザスケール*と同じ、格子干渉計タイプの変位計で、検出信号波長は138nm(ナノメートル)、数mmの区間をpm(ピコメートル)分解能で測定する事が可能です。測定対象は反射面が基本ですが、1次元や2次元のスケール面の検出も可能なため、この変位計を加えて2次元、3次元測定が可能となります。
すでに開発済みの2次元レーザスケールとあわせてこの変位計を使用すると、半導体製造装置で不可欠な高精度ステージ等で、3次元計測が可能となります。また、数mmの範囲がpm(ピコメートル)分解能で計測可能となる事から、今後ますます高精度化する半導体ウエハの平面度計測や、光学部品等の形状測定等、多様な用途で使用できる事が期待できます。
信号波長 | 138nm(ナノメートル) |
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分解能 | 8.4pm(ピコメートル)(16384分割) |
作動距離 | 3mm |
測定距離 | ±1mm |
主なアプリケーション | 半導体製造、検査装置の高精度ステージ制御、平面度計測、工作機械のキャリブレーション等 |
2012年8月末
初年度生産予定数量 | 500個 |
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初年度売上目標金額 | 約2億円 |
標準仕様 | 30万円 |
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高精度仕様 | 60万円 |
以上
お問い合わせ先:社長室 info-mgs@magnescale.com